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IBM和三星联合推出VTFET,手机续航时间有望延长到一周

IBM和三星预告了芯片设计会有新的“突破”——VTFET,并称这可能会改变半导体行业,使摩尔定律再多活几年。

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IBM和三星预告了芯片设计会有新的“突破”——VTFET,并称这可能会改变半导体行业,使摩尔定律再多活几年。

如果垂直晶体管应用到智能手机中,那么,相比于目前芯片中使用的鳍式场效应晶体管(finFET),它可以减少85%的能源使用或者将性能翻倍。IBM 和三星指出,该制程技术将能在未来达到手机在一次充电的情况下,待机续航力达到一个星期。

随着晶体管中的芯片越来越密集,工程师们的发挥空间变得越来越小。这种物理限制也阻碍了摩尔定律下集成电路芯片的发展轨迹,摩尔定律认为芯片密度每两年会翻一番。

新的垂直设计,即垂直传输场效应晶体管(VTFET),将晶体管垂直于芯片,而不是水平地在晶圆上分层放置,因此电流垂直地而不是横向地流过晶体管,电力耗损能在相同性能的情况下,降低85%。与FinFET相比,VTFET使工程师有机会在给定的空间内容纳更多的晶体管。IBM认为,VTFET有可能使摩尔定律在未来几年继续存在。

IBM研究院在一篇博文中表示:这种新方法通过放宽对晶体管栅极长度、间隔物厚度和接触尺寸的物理限制来解决扩展障碍,从而使这些特征可以各自得到优化,在性能或能耗方面得到提升。

VTFET延续了IBM对小型芯片设计的推动。5月IBM宣布了2纳米的芯片设计,它可以在指甲盖大小的范围内容纳500亿个晶体管。

限制FinFET芯片上可容纳晶体管数量的因素是间隔器、栅极和触点所占据的物理空间。在这些方面,IBM和三星都做了优化,例如使用 更大的源极/漏极触点来增加器件上的电流;调整栅极长度,以优化器件的驱动电流和漏电;间隔物的厚度可以独立调整,以降低电容。

"通过垂直方向的电流流动,栅极、空间和触点不再受到传统方式的限制。我们有空间来扩展CGP,同时保持健康的晶体管、接触和隔离尺寸,"IBM研究部在一篇博文中解释道。

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  • 发表于 2021-12-21 09:11
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